測(cè)量金屬基體的涂層測(cè)厚儀其測(cè)量原理一般有磁性法和渦流法，而測(cè)量手機(jī)殼上的鍍層厚度（這里所說(shuō)的是指金屬基體上的鍍層的厚度）一般都是用的是渦流測(cè)厚法。使用漆膜測(cè)厚儀（https://www.linshangtech.cn/applist2/）測(cè)量手機(jī)鍍層的厚度過(guò)程中，應(yīng)盡量保證專人專用和保管儀器。這是因?yàn)殚L(zhǎng)期讓高精度的涂層測(cè)厚儀處于工作狀態(tài)可能會(huì)加快儀器的損壞程度，也會(huì)使最終的測(cè)量結(jié)果異常。

林上LS220H漆膜測(cè)厚儀參數(shù)：

測(cè)量原理         Fe:霍爾效應(yīng) / NFe:電渦流

測(cè)量范圍         0.0-2000μm

分辨率     0.1μm:(0μm-99.9μm)

0.01mm:(1.00mm-2.00mm)

測(cè)量精度         ≤±(3%讀數(shù)+2μm)

單位         μm / mil

最小測(cè)量區(qū)域         ? = 25mm

最小基體厚度         Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

顯示         128×48點(diǎn)陣LCD

供電方式         2節(jié) 1.5V AAA堿性電池

工作溫度范圍         0℃-50℃

存儲(chǔ)溫度范圍         -20℃-60℃

主機(jī)尺寸         101*62*28 mm

測(cè)量手機(jī)鍍層的厚度我們一般使用林上LS220H漆膜測(cè)厚儀。這款儀器為側(cè)頭與主機(jī)一體式的設(shè)計(jì)，測(cè)量數(shù)據(jù)塊測(cè)試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)。0.5秒即可完成一次測(cè)量。而且測(cè)，探頭采用先進(jìn)的數(shù)字探頭可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位穩(wěn)定不漂移。在同一個(gè)位置可以反復(fù)測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定。

在漆膜測(cè)厚儀工作時(shí)也要保持環(huán)境的穩(wěn)定，減少磁場(chǎng)和人為因素的影響。不隨意拆卸儀器，減少儀器受外物腐蝕的情況。定時(shí)對(duì)漆膜測(cè)厚儀進(jìn)行檢測(cè)，出現(xiàn)故障時(shí)要及時(shí)送回廠家進(jìn)行維修，才能保持漆膜測(cè)厚儀的正常使用壽命和準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。