利用表面涂層測厚儀進行手機膜厚度測量是一無損害的測量方式，不會對手機膜造成損害。通過這款專業儀器測量手機膜厚度，可以在同等條件下讓手機鋼化膜厚度得到更好的控制，因此生產出更高質量、更耐用的手機鋼化膜。

使用表面涂層測厚儀測量手機鋼化膜的厚度過程中，應盡量保證專人專用和保管儀器。這是因為長期讓高精度的涂層測厚儀處于工作狀態可能會加快儀器的損壞程度，也會使最終的測量結果異常。在儀器工作時也要保持環境的穩定，減少磁場和人為因素的影響。不隨意拆卸儀器，減少儀器受外物腐蝕的情況。

用表面涂層測厚儀https://www.linshangtech.cn/tech/tech641.html進行手機膜厚度測量是同等條件下較為簡單便利同時精確度又比較高的一種方法。在科研中針對薄膜也有一些測量方式，比如作為橢偏儀的光學測量儀器，或者專業用于測量薄膜厚度的臺階儀。還有光學顯微鏡、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等。這些儀器可以分為接觸式的和非接觸式的。接觸式的有比如臺階儀探針，但這種儀器測量具有破壞性，對于非常薄的物體測量起來有困難，也容易造成破壞。非接觸式的通常采用光學測量儀器用光學方法進行測量，雖然測量分辨率精確度高，但是應用光學原理因此局限于只能測量透明和半透明的膜，如橢偏儀等。實際上在工業領域要獲得這些儀器并不容易，操作起來也較困難。因此在一般需要高精度的對手機膜進行厚度測量時，多采用的是高精度涂層測厚儀進行測量。